共用設備一覧

核磁気共鳴・電子スピン共鳴

設備ID 設備名 メーカー 型式 データ登録 機器利用可能
（利用者が操作できる設備）
NR-101 500MHz NMR 日本電子 JNM-ECZ500R 対象 ○
NR-102 400MHz 固体・溶液NMR 日本電子 JNM-ECX400P 対象 ○
NR-103 600MHz NMR 日本電子 JNM-ECA600 対象 ー
NR-104 電子スピン共鳴装置 （ESR） 日本電子 JES-FA100N 対象 ー

電子顕微鏡

設備ID 設備名 メーカー 型式 データ登録 機器利用可能
（利用者が操作できる設備）
NR-201 多機能分析走査電子顕微鏡 （SEM） 日本電子 JSM-IT800 対象 ○
NR-203 200kV透過電子顕微鏡 （200kV TEM） 日本電子 JEM-2200FS 対象 ○
NR-204 走査透過電子顕微鏡 （STEM） 日立ハイテク HD-2700 対象 ー
NR-205 超高分解能電界放出型電子顕微鏡 （FE-SEM） 日立ハイテク SU9000 対象 ○
NR-206 低真空分析走査電子顕微鏡 （SEM） 日立ハイテク SU6600 対象 ○
NR-207 原子分解能多機能透過電子顕微鏡 （NEOARM） 日本電子 JEM-ARM200F NEOARM 予定 ー

回折・散乱

設備ID 設備名 メーカー 型式 データ登録 機器利用可能
（利用者が操作できる設備）
NR-301 X線構造解析装置 リガク SmartLab 9kW/IP/HY/N 対象 ー
NR-302 微小単結晶X線構造解析装置 リガク VariMax RAPID RA-Micro7 対象 ー
NR-303 ダイナミック光散乱光度計 大塚電子 DLS-6000 予定 ○
NR-304 高性能単結晶X線自動解析装置 リガク XtaLAB Synergy-R/Cu 対象 ー

分光・表面分析

設備ID 設備名 メーカー 型式 データ登録 機器利用可能
（利用者が操作できる設備）
NR-401 多機能走査型X線光電子分光分析装置 （XPS） アルバック・ファイ PHI 5000 Versa Probe Ⅱ 対象 ○
NR-402 大気中光電子分光装置 理研計器 AC-3 対象 ○
NR-403 顕微レーザーラマン分光光度計 日本分光 NRS-4100-30 対象 ○
NR-405 円二色性分散計 （CD） 日本分光 J-820 予定 ○
NR-406 光ダイナミクス分光装置 仕様を参照 ー 予定 ー

質量分析

設備ID 設備名 メーカー 型式 データ登録 機器利用可能
（利用者が操作できる設備）
NR-501 マトリックス支援レーザー脱離イオン化Spiral飛行時間型質量分析計 （MALDI-Spiral-TOFMS） 日本電子 JMS-S3000 予定 ー
NR-502 二重収束型質量分析計 （Sector-MS） 日本電子 JMS-700 MStation 予定 ー
NR-503 LC/TOFMS飛行時間型質量分析計 （ESI-TOFMS） 日本電子 JMS-T100LC AccuTOF 予定 ー
NR-504 LC/TOFMS高分解能飛行時間型質量分析計 日本電子 AccuTOF LC-plus 4G, DART/ESI/CSI/APCI 予定 ー
NR-505 マトリックス支援レーザー脱離イオン化飛行時間型質量分析計 （MALDI-TOFMS） ブルカー Autoflex Ⅱ 予定 ○
NR-507 DART質量分析計 （DART-MS） 日本電子 JMS-Q1000TD 予定 ○

デバイス特性

設備ID 設備名 メーカー 型式 データ登録 機器利用可能
（利用者が操作できる設備）
NR-601 微小デバイス特性評価装置 （nanoEBAC） 日立ハイテク NE4000 予定 ○
NR-602 分光感度・内部量子効率測定装置 分光計器 CEP-2000RP 予定 ○

走査型プローブ顕微鏡

設備ID 設備名 メーカー 型式 データ登録 機器利用可能
（利用者が操作できる設備）
NR-706 表面ダイナミクス解析原子間力顕微鏡装置 （AFM） ブルカー NanoWizard ULTRA Speed 2 対象 ○

その他分析装置

設備ID 設備名 メーカー 型式 データ登録 機器利用可能
（利用者が操作できる設備）
NR-701 示差走査熱量計・示差熱熱重量同時測定装置 日立ハイテクサイエンス DSC 7000X/STA 7200 対象 ○
NR-702 分光エリプソメーター ホリバ・ジョバンイボン UVISEL ER AGMS-NSD 予定 ○
NR-703 微細形状測定装置 小坂製作所 ET200 予定 ○