共用設備一覧

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核磁気共鳴装置及び電子スピン共鳴装置

設備ID 設備名 メーカー 型式
NR-101 500MHz NMR (NMR) 日本電子 JNM-ECZ500R
NR-102 400MHz 固体・溶液NMR (NMR) 日本電子 JNM-ECX400P
NR-103 600MHz NMR (NMR) 日本電子 JNM-ECA600
NR-104 電子スピン共鳴装置 (ESR) 日本電子 JES-FA100N

顕微鏡装置

設備ID 設備名 メーカー 型式
NR-201 多機能分析走査電子顕微鏡 (SEM) 日本電子 JSM-IT800
NR-203 200kV透過電子顕微鏡 (200kV-TEM) 日本電子 JEM-2200FS
NR-204 走査透過電子顕微鏡 (STEM) 日立ハイテク HD-2700
NR-205 超高分解能電界放出型電子顕微鏡 (FE-SEM) 日立ハイテク SU9000
NR-206 低真空分析走査電子顕微鏡 (SEM) 日立ハイテク SU6600
NR-207 原子分解能多機能透過電子顕微鏡 (NEOARM) 日本電子 JEM-ARM200F NEOARM
NR-601 微小デバイス特性評価装置 (nanoEBAC) 日立ハイテク NE4000
NR-706 表面ダイナミクス解析原子間力顕微鏡装置 (High speed AFM) ブルカー NanoWizard ULTRA Speed 2

X線解析装置

設備ID 設備名 メーカー 型式
NR-301 X線構造解析装置 (SmartLab) リガク SmartLab 9kW/IP/HY/N
NR-304 高性能単結晶X線自動解析装置 リガク XtaLAB Synergy-R/Cu

表面分析装置

設備ID 設備名 メーカー 型式
NR-401 多機能走査型X線光電子分光分析装置 (XPS) アルバック・ファイ PHI 5000 Versa Probe Ⅱ

質量分析計

設備ID 設備名 メーカー 型式
NR-501 マトリックス支援レーザー脱離イオン化Spiral飛行時間型質量分析計 (MALDI-Spiral-TOFMS) 日本電子 JMS-S3000
NR-502 二重収束型質量分析計 (Sector-MS) 日本電子 JMS-700 MStation
NR-503 LC/TOFMS飛行時間型質量分析計 (ESI-TOFMS) 日本電子 JMS-T100LC AccuTOF
NR-504 LC/TOFMS高分解能飛行時間型質量分析計 (T100LP,Accutof4G) 日本電子 AccuTOF LC-plus 4G, DART/ESI/CSI/APCI
NR-505 マトリックス支援レーザー脱離イオン化飛行時間型質量分析計 (MALDI-TOFMS) ブルカー Autoflex Ⅱ
NR-507 DART質量分析計 (DART-MS) 日本電子 JMS-Q1000TD

光学測定装置

設備ID 設備名 メーカー 型式
NR-303 ダイナミック光散乱光度計 大塚電子 DLS-6000
NR-403 顕微レーザーラマン分光光度計 日本分光 NRS-4100-30
NR-405 円二色性分散計 (CD) 日本分光 J-820
NR-406 光ダイナミクス分光装置 仕様を参照
NR-702 分光エリプソメーター ホリバ・ジョバンイボン UVISEL ER AGMS-NSD

物性測定装置

設備ID 設備名 メーカー 型式
NR-402 大気中光電子分光装置 (PYS) 理研計器 AC-3
NR-602 分光感度・内部量子効率測定装置 分光計器 CEP-2000RP
NR-701 示差走査熱量計・示差熱熱重量同時測定装置 (DSC / TG-DTA) 日立ハイテクサイエンス DSC 7000X/STA 7200

膜厚測定装置

設備ID 設備名 メーカー 型式
NR-703 微細形状測定装置 小坂製作所 ET200