走査透過電子顕微鏡 （STEM）
設備情報更新日: 2026/03/10
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| 設備ID | NR-204 |
|---|---|
| メーカー | 日立ハイテク |
| 型式 | HD-2700 |
| 仕様 |
・加速電圧: 200 kV、120 kV、80 kVの3つから選択可 ・冷陰極電界放出形電子銃搭載 ・照射系球面収差補正器搭載 ・分解能: 136 pm（加速電圧 200 kV、ADF-STEM） ・検出器・カメラ ・明視野（BF-STEM）検出器 ・環状暗視野（ADF-STEM）検出器 ・二次電子（SEM）検出器 ・エネルギー分散X線分光（EDS）検出器 ・電子エネルギー損失分光（EELS）検出器 ・電子回折図形撮影用CCDカメラ |
| 担当者 |
宮家 和宏 |
利用料金
利用料金については、下記「走査透過電子顕微鏡に関するお問い合わせ」よりお問い合わせください。
謝辞記載とその報告のお願い
本事業を利用された成果として発表される論文等には、以下の例を参考に謝辞の記載をお願いいたします。
- 本研究（の一部）は、文部科学省「マテリアル先端リサーチインフラ」事業（課題番号 JPMXP12xxNRyyyy）の支援を受けて奈良先端科学技術大学院大学で実施された。
- (A part of) This work conducted in Nara Instutute of Science and Technology was supported by "Advanced Research Infrastructure for Materials and Nanotechnology in Japan (ARIM)" of the Ministry of Education, Culture, Sports, Science and Technology (MEXT). Proposal Number JPMXP12xxNRyyyy.
また、謝辞を記載いただいた、DOIが付与されている論文をこちら（準備中）よりご報告いただきますようお願いいたします。