表面ダイナミクス解析原子間力顕微鏡装置
表面ダイナミクス解析原子間力顕微鏡装置 （High speed AFM）
設備情報更新日：2026/03/30
- CMP設備ID
- CMP-075
- メーカー
- ブルカー
- 型式
- NanoWizard ULTRA Speed 2
- 仕様
-
・測定環境：大気中、液中
・最大撮影速度：10 frames/sec
・最大走査範囲：水平300µm×垂直300µm
・動作モード：コンタクトモード、ピークフォースタッピング（QIモード）、ACモード、フォースカーブマッピングモード
・温度制御範囲：室温～+300℃（高温加熱ステージ利用時）、-30～120℃（加熱冷却モジュール利用時） - 概要
- AFM（原子間力顕微鏡）は、探針と試料表面の間に働く原子間力を検出し、ナノメートル精度で表面形状や物性を観察する装置です。カンチレバー先端の探針が表面を走査し、そのたわみをレーザーで読み取ることで凹凸を可視化します。導電性を必要とせず、大気・真空・液中など多様な環境で測定でき、材料科学や半導体、生体分野で広く利用されています。
- 担当者
- 石原 綾子
淺野間 文夫
表面ダイナミクス解析原子間力顕微鏡装置 利用料金
利用料金更新日: 2026/04/01
共用設備の利用料金は、利用料金に消費税（地方消費税を含みます）を加えた金額に、設備の管理や運営にかかる費用として、その金額の30%を上乗せした合計額となります。
設備利用料金
- 技術代行: 利用者からの依頼に基づき、本学の研究者等が、研究設備等を利用し代行して、加工、分析又は操作等を行うもの。
- 機器利用: 利用者が、研究設備等を利用して加工、分析又は操作等を行うもの。（本学の研究者等が必要に応じて技術的な指導等を行うことを含む。）
- 機器利用の利用料金の設定がない設備では、技術代行によるご利用のみとなります。
※ 表は横にスクロールできます（→）
| 利用形態 | 料金（税抜） | 試験単位等 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 技術代行 | 121,400円 | 1検体（4時間以内） | |
| 機器利用 | 24,600円 | 1時間 |
共通オプション料金
※ 表は横にスクロールできます（→）
| オプション料金名 | 料金（税抜） | 試験単位等 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 技術相談 | 無料 | ー | |
| 技術補助講習 | 10,000円 | 1講習 | （４時間以内） 利用者が機器利用をする場合は、あらかじめ機器操作に関する講習として技術補助講習を受講することを基本とする。 なお、技術補助講習時に利用者の試料を用いて講習を行い、その講習時に得られたデータを利用する場合は、技術代行に係る料金として別途１検体分の利用料金を徴収する。 |
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備考： （４時間以内） 利用者が機器利用をする場合は、あらかじめ機器操作に関する講習として技術補助講習を受講することを基本とする。 なお、技術補助講習時に利用者の試料を用いて講習を行い、その講習時に得られたデータを利用する場合は、技術代行に係る料金として別途１検体分の利用料金を徴収する。 |
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| 一般技術補助 | 10,000円 | 1時間 | |