多機能分析走査電子顕微鏡
多機能分析走査電子顕微鏡 （SEM）
設備情報更新日：2026/07/03
- CMP設備ID
- CMP-074
- メーカー
- 日本電子
- 型式
- JSM-IT800
- 仕様
-
・仕様
加速電圧: 100 V 〜 30 kV（減速機能あり）
分解能: 0.5 nm（2次電子像、加速電圧15 kV）
分解能: 0.7 nm（2次電子像、加速電圧1 kV）
EDS検出器搭載
EBSD検出器搭載
CL検出器搭載
低真空機能搭載
・機種
SEM：JSM-IT800（SHL）（0.5nm (15kV)、0.7nm (1kV)、 0.9nm (500V) 、3.0nm (5kV, 5nA, WD 10mm)
EDS：Octane Elite Ultra（160 mm2 Windowless EDS Detector）
EBSD：Velocity Super（MAX4,500points/sec）
CL：Monarc WAR（Model 450）Wave：185-980nm（PMT）、200-1100nm（CCD）
(CL_detail：Monarc PRO（PMT）、modified TELEDYNE_400B_eXcelon（CCD）)
Sample size :MAXφ32mm、t10mm - 担当者
- 小池 徳貴
多機能分析走査電子顕微鏡 利用料金
利用料金更新日: 2026/04/01
共用設備の利用料金は、利用料金に消費税（地方消費税を含みます）を加えた金額に、設備の管理や運営にかかる費用として、その金額の30%を上乗せした合計額となります。
設備利用料金
- 技術代行: 利用者からの依頼に基づき、本学の研究者等が、研究設備等を利用し代行して、加工、分析又は操作等を行うもの。
- 機器利用: 利用者が、研究設備等を利用して加工、分析又は操作等を行うもの。（本学の研究者等が必要に応じて技術的な指導等を行うことを含む。）
- 機器利用の利用料金の設定がない設備では、技術代行によるご利用のみとなります。
※ 表は横にスクロールできます（→）
| 利用形態 | 料金（税抜） | 試験単位等 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 技術代行 | 140,600円 | 1検体（4時間以内） | |
| 機器利用 | 23,400円 | 1時間 |
共通オプション料金
※ 表は横にスクロールできます（→）
| オプション料金名 | 料金（税抜） | 試験単位等 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 技術相談 | 無料 | ー | |
| 技術補助講習 | 10,000円 | 1講習 | （４時間以内） 利用者が機器利用をする場合は、あらかじめ機器操作に関する講習として技術補助講習を受講することを基本とする。 なお、技術補助講習時に利用者の試料を用いて講習を行い、その講習時に得られたデータを利用する場合は、技術代行に係る料金として別途１検体分の利用料金を徴収する。 |
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備考： （４時間以内） 利用者が機器利用をする場合は、あらかじめ機器操作に関する講習として技術補助講習を受講することを基本とする。 なお、技術補助講習時に利用者の試料を用いて講習を行い、その講習時に得られたデータを利用する場合は、技術代行に係る料金として別途１検体分の利用料金を徴収する。 |
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| 一般技術補助 | 10,000円 | 1時間 | |