走査透過電子顕微鏡
走査透過電子顕微鏡 （STEM）
設備情報更新日：2026/03/31
- CMP設備ID
- CMP-065
- メーカー
- 日立ハイテク
- 型式
- HD-2700
- 仕様
-
[加速電圧]
200 kV、120 kV、80 kVの3つから選択可
冷陰極電界放出形電子銃搭載
照射系球面収差補正器搭載
[分解能]
136 pm（加速電圧 200 kV、ADF-STEM）
[検出器・カメラ]
・明視野（BF-STEM）検出器
・環状暗視野（ADF-STEM）検出器
・二次電子（SEM）検出器
・エネルギー分散X線分光（EDS）検出器
・電子エネルギー損失分光（EELS）検出器
・電子回折図形撮影用CCDカメラ - 利用案内
-
当面の間、原子分解能多機能透過電子顕微鏡をご利用いただきますようお願いいたします。（2026/3/31）
- 担当者
- 宮家 和宏
走査透過電子顕微鏡 利用料金
利用料金更新日: 2026/04/01
共用設備の利用料金は、利用料金に消費税（地方消費税を含みます）を加えた金額に、設備の管理や運営にかかる費用として、その金額の30%を上乗せした合計額となります。
設備利用料金
- 技術代行: 利用者からの依頼に基づき、本学の研究者等が、研究設備等を利用し代行して、加工、分析又は操作等を行うもの。
- 機器利用: 利用者が、研究設備等を利用して加工、分析又は操作等を行うもの。（本学の研究者等が必要に応じて技術的な指導等を行うことを含む。）
- 機器利用の利用料金の設定がない設備では、技術代行によるご利用のみとなります。
※ 表は横にスクロールできます（→）
| 利用形態 | 料金（税抜） | 試験単位等 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 技術代行 | 161,400円 | 1検体（4時間以内） |
共通オプション料金
※ 表は横にスクロールできます（→）
| オプション料金名 | 料金（税抜） | 試験単位等 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 技術相談 | 無料 | ー |